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雷達物位計的基本設(shè)定和用途

時間：2023-05-18 09:14:22 點擊：次

雷達物位計是一種常用的物位測量儀器，它利用雷達波的特性來測量物料的高度或液位。這幾年，隨著國內(nèi)的經(jīng)濟迅速發(fā)展，化工、石油、食品、醫(yī)藥等行業(yè)領(lǐng)域?qū)走_物位計的需求也越來越大。雷達物位計在許多復(fù)雜條件下使用時，它的綜合性能好于其他常規(guī)物位儀表的測量技術(shù)。幾乎不受腐蝕、泡沫的影響；也幾乎不受大氣中水蒸氣、溫度和壓力變化的影響。
雷達物位計的基本設(shè)定
1. 根據(jù)物位計測量儲罐的形狀，設(shè)定儲罐特性。
2. 根據(jù)檢測介質(zhì)的特性設(shè)定介電常數(shù)。
3. 在過程條件一項選擇所測介質(zhì)的過程變化情況，如果是桿式的雷達物位計，還應(yīng)該設(shè)定探頭底部的接觸情況。
4. 接下來按照工藝要求設(shè)定物位計的空標和滿標值，如果是導(dǎo)波管的還應(yīng)該設(shè)定導(dǎo)波管的直徑。

5. 根據(jù)設(shè)定的空標值做全程抑制。

雷達物位計的用途
雷達物位計采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常，波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。雷達物位計對人體及環(huán)境均無傷害，還具有不受介質(zhì)比重的影響，不受介電常數(shù)變化的影響，不需要現(xiàn)場校調(diào)等優(yōu)點，不論是對工業(yè)需要，還是對顧客經(jīng)濟實惠的考慮，都是不錯的選擇。
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